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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211194708.6 (22)申请日 2022.09.29 (71)申请人 南通华烽纸业有限公司 地址 226000 江苏省南 通市通州区金新 街 道花家渡村19组 (72)发明人 严峰 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/10(2006.01) (54)发明名称 基于图像处 理的瓦楞纸质量检测方法 (57)摘要 本发明涉及图像处理领域, 提出了一种基于 图像处理的瓦楞纸质量检测方法, 包括: S1: 获取 待检测瓦楞纸表面灰度图; S2: 得到待检测瓦楞 纸表面频谱 图; S3: 计算每个高频高亮点与低频 中心点的距离; S4: 得到每个高频高亮点的频率 异常程度; S5: 得到整体间距异常程度; S6: 判断 待检测瓦楞纸是否存在间距异常, 若存在, 判断 待检测瓦楞纸质量不合格; 否则, 进行S7; S7: 得 到霍夫空间图像; S8: 得到第一目标列和第二目 标列中每个高亮点的异常程度; S9: 得到第一目 标列和第二目标列中高亮点的缺损影响程度; S10: 得到缺损综合评测系数, 通过缺损综合评测 系数判断待检测瓦楞纸的质量是否合格。 本发明 提高了检测效率。 权利要求书2页 说明书8页 附图1页 CN 115272331 A 2022.11.01 CN 115272331 A 1.一种基于图像处 理的瓦楞纸质量检测方法, 其特 征在于, 包括: S1: 获取待检测瓦楞纸表面灰度图; S2: 通过待检测瓦楞纸表面灰度图得到待检测瓦楞纸表面频谱图; S3: 通过待检测瓦楞纸表面频谱图中每个 高频高亮点对应的三角函数的最小正周期计 算每个高频高亮点与低频中心点的距离; S4: 通过待检测瓦楞纸表面频谱图中每个 高频高亮点与低频中心点的距离以及像素值 最大的高频高亮点与低频中心点的距离得到每 个高频高亮点的频率异常程度; S5: 通过所有高频高亮点的像素值和频率异常程度 得到待检测瓦楞纸的整体间距异常 程度; S6: 利用待检测瓦楞纸的整体间距异常程度判断待检测瓦楞纸是否存在间距异常, 若 待检测瓦楞纸存在间距 异常, 判断待检测瓦楞纸质量 不合格; 否则, 进行S7; S7: 通过待检测瓦楞纸表面灰度图得到待检测瓦楞纸表面二值图, 将待检测瓦楞纸表 面二值图中的瓦楞像素点 转换到霍夫空间, 得到霍夫空间图像; S8: 获取霍夫空间图像中每列高亮点的方差, 选取所有列高亮点的方差中最小的两个 方差对应的列分别作为第一目标列和 第二目标列, 分别通过第一目标列和 第二目标列中每 个高亮点的像素值以及第一目标列和第二目标列的高亮点像素均值得到第一目标列和第 二目标列中每 个高亮点的异常程度; S9: 分别通过第一目标列和第 二目标列中所有高亮点的异常程度 得到第一目标列和第 二目标列中 高亮点的缺损影响程度; S10: 通过第 一目标列和第二目标列中的高亮点像素均值、 高亮点个数以及高亮点的缺 损影响程度得到待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数, 通过待检测瓦楞纸的缺损综合评测系 数判断该待检测瓦楞纸的质量是否合格。 2.根据权利要求1所述的一种基于图像处理 的瓦楞纸质量检测方法, 其特征在于, 每个 高频高亮点与低频中心点的距离为该高频高亮点所对应的三角函数的最小正周期的倒数。 3.根据权利要求1所述的一种基于图像处理 的瓦楞纸质量检测方法, 其特征在于, 获取 每个高频高亮点的频率异常程度的方法为: 获取像素值 最大的高频高亮点与低频中心点的距离; 通过像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离以及 目标高频高亮点与低频中心 点的距离得到距离 差; 通过该距离差和像素值最大的高频高亮点与低频中心点的距离的比值得到目标高频 高亮点的频率异常程度。 4.根据权利要求1所述的一种基于图像处理 的瓦楞纸质量检测方法, 其特征在于, 得到 待检测瓦楞纸的整体间距 异常程度的方法为: 式中: 表示待检测瓦楞纸的整体间距异 常程度, 表示第 个高频高亮点的间距异 常 程度, 表示第 个高频高亮点, 表示高频高亮点的个数;权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115272331 A 2高频高亮点的间距 异常程度的表达式为: 式中: 表示第 个高频高亮点的像素值, 表示第 个高频高亮点的频率异常程度。 5.根据权利要求1所述的一种基于图像处理 的瓦楞纸质量检测方法, 其特征在于, 第 一 目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度分别为第一目标列和第二目标列中每个高 亮点的像素值与第一目标列和第二目标列的像素值均值差值的绝对值。 6.根据权利要求1所述的一种基于图像处理 的瓦楞纸质量检测方法, 其特征在于, 得到 第一目标列和第二目标列中 高亮点的缺损影响程度的方法为: 分别通过第一目标列和第二目标列中每个高亮点的异常程度和所有高亮点的异常程 度得到第一目标列和第二目标列中每 个高亮点的异常程度权 重; 分别通过第一目标列和第二目标列中所有高亮点的异常程度权重和异常程度得到第 一目标列和第二目标列中 高亮点的缺损影响程度。 7.根据权利要求1所述的一种基于图像处理 的瓦楞纸质量检测方法, 其特征在于, 待检 测瓦楞纸的缺损综合评测系数的表达式为: 式中: 表示待检测瓦楞纸的缺损综合评测系数, 表示第一目标列高亮点的缺损影响 程度, 表示第二目标列高亮点的缺损影响程度, 表示第一目标列高亮点的像素累加值, 表示第二目标列高亮点的像素累加值。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115272331 A 3
专利 基于图像处理的瓦楞纸质量检测方法
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