(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202210424283.7
(22)申请日 2022.04.22
(71)申请人 中国石油大 学 (华东)
地址 266580 山东省青岛市黄岛区长江西
路66号
(72)发明人 邓晓刚 周奉玄 刘晓月 肖林勃
谭海燕 雷其昌
(51)Int.Cl.
G06T 7/00(2017.01)
G06V 10/77(2022.01)
G06V 10/762(2022.01)
G06K 9/62(2022.01)
(54)发明名称
基于多块主成分分析网络的晶圆图缺陷检
测方法
(57)摘要
本发明涉及一种基于多块主成分分析网络
的晶圆图缺陷检测方法, 其步骤为: 首先对晶圆
图进行尺寸统一化和滤噪的预处理; 然后通过K
均值聚类技术将PCANet模型提取的高维晶圆图
特征分为不同的特征子块, 然后对每个特征子块
分别应用支持向量数据描述法建立监控子模型;
最后使用贝叶斯融合策略将不同子块的监控模
型融合为整体监控模型, 并根据整体监控模型进
行晶圆图缺陷的检测。 本发明能提取到晶圆图中
有助于缺陷检测的深层特征, 并使用分块策略降
低了特征差异性对晶圆图缺陷检测的影 响, 能够
有效地提高晶圆图缺陷检测的性能。
权利要求书4页 说明书11页 附图3页
CN 115423737 A
2022.12.02
CN 115423737 A
1.一种基于多块主成分 分析网络的 晶圆图缺陷检测方法, 含有以下步骤:
(一)采集工业过程中的正常晶圆图样本作为训练数据集I, 并对训练数据集I中的晶圆
图样本进行预处理, 预处理过程包括图像的尺寸统一化和中值滤波, 经过预处理后的训练
数据集表示 为Ip;
(二)使用预处理后的训练数据集Ip训练多块主成分分析网络(简称: PCANet)模型并提
取训练数据特征集F, 利用训练数据特征集F的均值mF和方差sF对训练数据特征集F进行标
准化处理, 经过标准化处理后的训练数据特征集表示为
然后使用K均值聚类算 法将标准
化的训练数据特 征集
分为k个特征子块
(三)对k个特征子块
中的每个特征子块
应用支持向量描
述(简称: SVDD)法建立基本的监控子模型, 并将标准化的训练数据特征集
投影到相应的
SVDD模型上计算监控变量Db(1≤b≤k), 使用核密度估计方法根据 置信水平β 确定每个特征
子块的置信极限
然后使用贝叶斯融合策略构建整体统计量BD, 并使用核密度估计方法
根据置信水平β 计算整体 检测阈值BDlim;
(四)采集包含正常晶圆图样本和缺陷晶圆图样本的测试数据集It, 并对测试数据集It
中的晶圆图样本进行预处理, 预处理过程包括图像的尺寸统一化和中值滤波, 经过预处理
后的测试 数据集表示 为
(五)使用训练好的PCANet模型提取预处理后的测试数据集
的晶圆图特征集Ft, 并利
用训练数据特征集F的均值mF和方差sF对测 试数据特征集Ft进行标准化处理, 经过标准化
处理后的测试 数据特征集表示 为
(六)将标准化的测试数据特征
投影到相应的SVDD模型上计算监控变量
并通过贝
叶斯融合策略计算测试样本的整体监控变量BDt, 将测试样本的整体监控变量BDt与检测阈
值BDlim进行比较, 如果BDt>BDlim, 则表示测试样本是缺陷晶圆图, 否则是正常晶圆图。
2.如权利要求1所述的基于多块主成分分析网络的晶圆图缺陷检测方法, 其特征在于,
所述步骤(一)中, 对包含N张正常晶圆图样 本的训练数据集I=[I1,I2,...,IN]进行预处理,
首先使用双三次插值算法对晶圆图进 行缩放处理, 将晶圆图的尺 寸统一化为(28, 28), 然后
对经过尺寸统一化处理后的训练数据集使用(3, 3)的滤波核进行中值滤波处理, 经过预处
理后的训练数据集表示 为
3.如权利要求2所述的基于多块主成分分析网络的晶圆图缺陷检测方法, 其特征在于,
所述步骤(二)中, 首先通过预处理后的训练数据集Ip训练PCANet模型并提取训练数据特征
集F, 训练PCANet模型并提取特征主要包括第一阶段主成分分析、 第二阶段主成分分析、 二
进制哈希编码和块 直方图三个阶段, 具体步骤如下:
(1)第一阶段主成分 分析
首先对训练数据集
中的晶圆图按照逐个像素进行大小为k1×k2的块
采样, 然后对 全部采样块进行级联 学习, 第
张晶圆图的表示 为:
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2其中,
[k1/2]表示取整 运算; 然后对上述采 集到的块进行零
均值化处理, 处理后的晶圆图块表示 为:
同样的, 对训练数据集中的每张晶圆图都做相似的处 理, 经过处理后的训练集矩阵为:
假设第一层的PCA滤波器数量 为L1, 那么PCANet模型的第一层PCA滤波器表示如下:
其中,
表示将X映射到矩阵大小为k1×k2的矩阵
ql(XXT)表示XXT的第l个主
要特征向量;
(2)第二阶段主成分 分析
第二阶段PCA与第一阶段PCA相似, 首 先对第一阶段PCA产生的映射输出进行计算:
Ii与Wl1做卷积运算, 并且做卷积运算之前, 为了保证 映射结果与原始晶圆图的尺寸相
同, 使用零值填充图像的边界, 与第一阶段相似, 在第二阶段同样对输入矩阵(PCANet第一
阶段PCA的输出矩阵)进行块采样、 级联和零均值 化处理:
然后对每一个矩阵都做相似的处 理, 得到第二层输入矩阵的块采样形式:
同样的, 第二层PCA滤波器也由相应的主特征向量组成, 假设第二层的PCA滤波器数量
为L2, 则第二层PCA滤波器表示 为:
最终, 通过PCANet模型的前两个阶段, 每 个晶圆图都会产生 L1×L2个输出特征矩阵:
(3)哈希编码和块 直方图
首先对第二阶段的输出矩阵进行二值处理, 处理后的输出矩阵数据只包含整数和零,
接着对这些输出矩阵再通过公式(1 1)进行二进制哈希编码:
其中H(·)是一个单位阶跃函数, 经过以上处理, 第 二阶段输出矩阵数据中的每个像素
值都被编码为
之间的整数, 第i张晶圆图共有 L1个输出
将每个输 出
划分为B个块, 然后对每 个块进行直方图统计再进行级联后得到的输出为:权 利 要 求 书 2/4 页
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专利 基于多块主成分分析网络的晶圆图缺陷检测方法
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